产品分类
  四探针电阻率/方阻测试仪系列
  两探针电阻率测试仪系列
  少子寿命测试仪系列
  导电类型测试仪系列
  探针头系列
  测试架系列
  测试软件
  备品配件
  薄膜或涂层方块电阻测试仪
  铝箔直流电阻测试仪
  电容电压特性测试仪
  金属薄膜方块电阻测试仪
  双电测四探针测试仪
  杂质浓度测试仪
  扫描式微波光电导寿命测试仪系列
  非接触半绝缘半导体电阻率测试仪系列

联系人:王昕
电话:020-37201090
13710883835
传真:020-37202600
Q Q:573570897
mail:gzkunde@163.com


  广州市昆德科技有限公司是以世界著名的中国半导体物理学家黄昆、谢希德姓名中的最后一字命名的半导体科技公司,2003年10月9日经广州市工商行政管理局批准成立。公司主要从事半导体物测仪器的生产和开发,主要产品有四探针电阻率测试仪、单晶少子寿命测试仪、导电型号测试仪及相关配套产品。公司以原在广州半导体材料研究所,从事半导体材料测试及仪器开发,长达40多年历史的数位高级工程师及有...
·我公司参加了2016年9月7-9日在新疆昌吉市召开的半导体材料标准会议[2016-9-8]
·我公司参加了2015年12月1-4日在呼和浩特召开的半导体材料标准年会[2015-12-4]
·我司于2015年11月23-26日参加了全国新型功率半导体器件及应用技术研讨会[2015-11-27]
·我公司参加了2015年7月在焦作召开的半导体材料标准会议[2015-7-17]
·2014年12月16-19日我司作为《铝箔直流电阻》标准的第二起草单位参加了昆明举办的全...[2014-12-19]
·我司将参加11月19日~22日在徐州召开的2014年度全国半导体设备和材料标准化技术委员...[2014-11-6]
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